Chroma 3160C 三温四站终端测试分类机 *温控技术 （Nitro-TEC 氮气温度控制器） 更快的 index time （0.6 sec） 主动式温度控制并且提供更全面的测试温度区间 Chamber Less的设计 支持更多样化测试sites的选择 （1/2/4 sites） 更简单快速的更换kit

Chroma 3160/3160F 4 site 终端测试分类机 9K pcs 产能 （Model 3160） 弹性的矩阵测试及指纹图形测试 （3160F） 1~10 Kgf 微型接触力 （3160F） 1 x 4 DUT架构 （3160/3160F） 空载盘自动堆迭 （选购） （3160F） 可设定的待测物间距 可侧边安装测试机

致茂Chroma 3112 晶片测试分类机 高信赖度之PnP自动化测试分类机 x4 多盘置入自动测试分类 Q方位 （X/Y/Z/θ） 可调式探针座模组 测式座产品堆迭检测 x12 输出分类盘可程式设定输出类别 全程即时良率显示与控制 全程探针接触状态显示 （选配）

致茂Chroma 3111 桌上型单站测试分类机 600 mm （W） x 565 mm （D） x 800 mm （H） 可放置两个JEDEC料盘 支援 5x5mm 到 45x45mm 晶片尺寸 可由软体介面设定分类数 测试头内建气室，可吸收及减缓下压触力冲击 优化的 IC 下压接触平整度 蕞佳化的 socket 使用寿命 IC 堆迭防护 连续性自动重测功能

致茂Chroma 3110-FT 三温测试分类机 可设定温度范围 -40℃~125℃ 适用于 FT测试 支援的晶片尺寸从 3x3 mm 到 45x45 mm 控制下压触力在1到10 kg （Optional） 具有4个产品分类料盘 支援远端控制操作