Chroma 3160/3160F 4 site 终端测试分类机

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Chroma 3160/3160F 4 site 终端测试分类机

主要特色：

• 9K pcs 产能 (Model 3160)
• 弹性的矩阵测试及指纹图形测试 (3160F)
• 1~10 Kgf 微型接触力 (3160F)
• 1 x 4 DUT架构 (3160/3160F)
• 空载盘自动堆迭 (选购) (3160F)
• 可设定的待测物间距
• 可侧边安装测试机
• 可编程气动式阻尼器控制，以减少接触力的影响响
• 智慧型IC残留检测
• 测试良率控制
• 通用治具
• 进阶版ESD标准

3160系列是一系列适合量产、高产出、多平行测试站点的高速IC测试分类机。此系列分类机运用Pick & Place技术，能够配合多种封装类型并按照测试结果将它们排序分类予分料盘中。其高效率的模组化设计与精准的机构传动结构可确保在高速运作下，机台量测之重复性，并有助于增加机台使用之稳定性与维护之便利性。此外，其简洁的机台设计更可节省机台于测试厂之占地面积，帮助客户大幅降低生产成本。3160F则可依其待测物 (指纹辨识芯片) 的不同需求，修改测试条件及程序。

3160系列具备高可靠性的处理机制可依据测试需求支援各种不同类型封装的晶片，且能与通用生产治具相容，顺畅的自动化技术满足高产能和低Jam Rate的量产要求。此外，可调式的压测力和位置校正以及各种感应装置可降低待测物发生突如其来的损坏，和帮助延长socket的使用期，同时保持或提升产能的良率。

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