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致茂Chroma 3112 晶片测试分类机

更新时间:2020-07-13

简要描述:

致茂Chroma 3112 晶片测试分类机
高信赖度之PnP自动化测试分类机
x4 多盘置入自动测试分类
Q方位 (X/Y/Z/θ) 可调式探针座模组
测式座产品堆迭检测
x12 输出分类盘可程式设定输出类别
全程即时良率显示与控制
全程探针接触状态显示 (选配)

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致茂Chroma 3112 晶片测试分类机

主要特色:

  • 高信赖度之PnP自动化测试分类机
  • x4 多盘置入自动测试分类
  • Q方位 (X/Y/Z/θ) 可调式探针座模组
  • 测式座产品堆迭检测
  • x12 输出分类盘可程式设定输出类别
  • 全程即时良率显示与控制
  • 全程探针接触状态显示 (选配)

Chroma 3112具备单头与多头之适合量产的PnP 自动化晶片测试分类机,可藉由治具变更处理 各种不同尺寸规格之晶片测试与分类。此设备透 过PnP方式将晶片自晶片盘载入至测试站中,精 确的测试后依据测试结果稳定的放置于分类盘 中。其高效率的模组化设计与精准的机构传动 结构可确保在高速运作下减少Jam Rate的量产要 求,多重检查功能装置可降低待测物发生异常的 损坏。

晶片测试运用此自动化测试分类技术不仅能提升 生产效率、减少人力需求,同时也增加了测试稳 定度及测试良率。此外,其简洁的机台设计更可 节省机台于测试厂之占地面积,帮助客户大幅降 低生产成本。

Die Test Handler Model 3112

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3112晶片测试分类机

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