致茂Chroma 3380/3380P/3380D VLSI测试系统

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致茂Chroma 3380/3380P/3380D VLSI测试系统

3380 VLSI测试系统

主要特色：

• 50/100 MHz 测试频率
• 50/100 Mbps 数据速率
• 1024 数字通道管脚 (蕞高1280 数字通道管脚)
• 高达1024 sites 并行测试
• 32/64/128 pattern 记忆体
• 16M capture memory per pin
• 多样化 VI 电源
• 弹性化硬体架构 (可互换式 I/O, VI, ADDA)
• Real parallel trim/match 功能
• 时序频率测试单位 (TFMU)
• 高速时序测试单位 (HSTMU)
• 支援STDF工具
• 测试program/pattern转换器 (J750, D10, S50/100, E320, SC312, V7, TRI-6036等)
• AD/DA功能板卡 *可选配
• SCAN向量存储深度(蕞高 2G bits/chain) *可选配
• ALPG 测试功能可供记忆体IC用 *可选配
• CRAFT C/C++ 程式语言
• 软件介面与3380P/3360P相同
• 人性化的 Windows 7操作系统

 为因应未来IC晶片脚位数更多、速率更高、整合功能更为复杂的发展驱势，Chroma以此发展方向提供新一代3380系列VLSI测试机台，包含3380D、3380P、3380机型，根据不同的脚位数或并行测试(Parallel Test)，提供需求与成本效益兼具的测试解决方案。

此系列机型之一的VLSI测试系统3380，具有蕞高1280数字通道管脚、256 VI、弹性化架构、以及完整选项功能板(ADDA/Hi-voltage DPS)等特色；可符合高同测的市场驱势，具备1024数字通道管脚可并行测试1024个晶片的能力。除了*的4-wire高密度IC电源(VI source)外，弹性化可调整的架构还可提供Mini & Macro LED驱动IC、CMOS影像感测器(CIS)、及3D影像测试等解决方案；以利涵盖更广泛的IC测试功能与应用范围。

3380 VLSI测试系统可无缝接轨3380D(256pins)与3380P(512pins)，以因应更高的产能需求。 3380系列VLSI测试系统无论在装机、稳定度、友善使用介面、及成本效益上，长期以来皆已于中国市场获得广泛印证。

应用范围

• 微控制器单元 (MCU)
• ADC/DAC混合信号IC
• 逻辑IC
• ADDA
• ALPG
• Smart card
• Mini & Macro LED驱动IC
• CMOS影像感测器 (CIS)
• 电源IC (Class D IC)
• 消费性IC
• LED驱动IC

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致茂Chroma 3380/3380P/3380D VLSI测试系统

3380P VLSI测试系统

 主要特色：

• 50/100 MHz测试频率
• 50/100 Mbps数据速率
• 512数字通道管脚 (蕞高可至 576数字通道管脚)
• 并行测试可达 512 sites 同测数
• 32/64/128M Pattern 记忆体
• 多样弹性 VI 电源
• 弹性化硬体结构 (可互换式 I/O, VI, ADDA)
• Real parallel Trim/Match 功能
• 时序频率测试单位 (TFMU)
• AD/DA 功能板卡 (16/24 bits) *可选配
• SCAN向量存储深度(蕞高 2G bits/chain) *可选配
• ALPG 测试选配供记忆体 IC用
• STDF 工具支援
• 测试程式/pattern 转换器 (J750, D10, V50, E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
• 人性化 Window 7 操作系统
• CRAFT C/C++ 程式语言
• 软件介面与 3380P/3360P 相同
• Direct mount 治具可相容于3360P probe-card
• Cable mount 治具可相容于3360D与3360P

 为因应未来IC晶片须具备更高速度及更多脚位及更复杂功能的IC晶片，Chroma新一代VLSI测试系统3380D/3380P/3380除采用更弹性架构外，整合密度更高且功能更强大。

3380D/3380P/3380机型为因应高同测(HighParallel Test)功能，除内建*的4-wire功能高密度IC电源(VI source)外，更具备Any Pins to Any Site高同测功能(512 I/O pin可并行测512 个测试晶片)，以因应未来IC晶片更高的测试需求。

3380P同时具备All-In-One (Only Test Head) 的小型化、低耗能化设计及非常具竞争性的机台性价比。

3380系列VLSI测试系统无论在装机、稳定度、友善使用介面、及成本效益上，长期以来皆已于中国市场获得广泛印证。

涵盖广泛的应用范围

Logic, MCU, ADDA (Mixed-signal); Power, LED driver, Class D; SCAN, ALPG, Match...etc

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3380D VLSI 测试系统 

 主要特色：

• 50/100 MHz测试频率
• 50/100 Mbps数据速率
• 256数字通道管脚
• 并行测试可达 256 sites 同测数
• 32/64/128 M Pattern 记忆体
• 多样弹性 VI 电源
• 弹性化硬体结构 (可互换式 I/O, VI, ADDA)
• Real parallel Trim/Match 功能
• 时序频率测试单位 (TFMU)
• AD/DA 功能板卡 (16/24 bits) *可选配
• SCAN向量存储深度(蕞高 2G bits/chain) *可选配
• ALPG 测试选配供记忆体IC用
• STDF 工具支援
• 测试程式/pattern 转换器 (J750, D10, V50, E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
• 人性化 Window 7 操作系统
• CRAFT C/C++ 程式语言
• 软件介面与 3380P/3360P 相同
• Direct mount 治具可相容于3360P probe-card
• Cable mount 治具可相容于3360D与3360P

 为因应未来IC晶片脚位数更多、速率更高、整合功能更为复杂的发展驱势，Chroma VLSI测试系统3380D/3380P/3380除采用更弹性架构外，整合密度更高，且功能更强大。

3380D/3380P/3380机型为因应高同测功能(High Parallel Test)，除内建*的4-wire功能高密度IC电源(VI source) 外，更具备any-pins-to-any-site高同测功能(256数字通道管可并行测256个测试晶片)，以因应未来IC晶片更高的测试需求。

3380D/3380P/3380系列同时具备机框式直流电源供应的小型化、低耗能化设计及非常具竞争性的机台性价比。

3380D VLSI测试系统非常适合应用于IoT相关的晶片测试，尤其是一些具成本压力的元件如整合功能之MCU、MEMS等，VLSI测试系统3380D/3380P/3380 系列开发至今，已在大中华地区被广泛的采用。

满足晶片测试的各种应用范围

Logic, ADDA, LCD, LED, Power, ALPG, Match, and etc.

相容性治具解决方案

3380D C-M FT/CP solution - The cable mount kits are compatible with 3360D/3360P cable mount FT/CP

3380D 3380D D-M CP solution - The direct mount kits are compatible with 3360P/3380P D-M probe card

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