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Product Center致茂Chroma 3270微型 IC 测试分类机 适合 CMOS 影像感应组件量产需求 可靠的高速 Pick&Place 分类机 3x3 mm 微型 IC 处理能力 浮动头可有效率平衡测试压力 自动测试压力学习 IC 残留检测功能
致茂Chroma 3260自动化系统功能测试机 可靠的高速Pick&Place分类机 同步吸嘴双取及双放设计 具备处理QFP的能力 简易编辑通讯定义(ECD)功能 无测试座损坏的问题 浮动头可有效率衡测试压力
致茂Chroma 3240自动化系统功能测试机 可靠的高速Pick&Place分类机 同步吸嘴双取及双放设计 具备处理QFP的能力 简易编辑通讯定义(ECD)功能 无测试座损坏的问题 浮动头可有效率衡测试压力
致茂Chroma 3240-Q无线射频分类机 符合成本效益的RF整合方案 客制RF隔离室和整合Tester安装 可调整测试间距至120mm 具有八个平行测试站点 支援的晶片尺寸从 3x3 mm 到45x45 mm 精确的定位能力 支援JEDEC和EIA料盘
致茂Chroma 3180八站逻辑测试分类机 具有八个平行测试站点 9Kpcs 产能 弹性的多测点架构 减轻压测力 自动压测力学习 支援的晶片尺寸从 3x3 mm 到50x50 mm 温度测试范围从常温到高温150 ℃ 连续自动重测功能