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Product Center致茂Chroma 7925TO-CAN 封装外观检测系统可检测TO-CAN 封装金属外盖与透镜之刮伤、破裂、异物及胶合不良等缺陷具备自动对焦功能,可克服载盘制造公差内的高度差异检测完成后可依设定规格挑拣不良品提供比人工目检更佳的可靠度及重复性每小时蕞高可检测3600颗待测物自动化上下料盘,减少人员上下料时间提供完整的检测资料,包含检测数据及缺陷影像以供工程分析
品牌 | Chroma/致茂 | 产地类别 | 国产 |
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应用领域 | 电子 |
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致茂Chroma 7925TO-CAN 封装外观检测系统
主要特色:
Chroma 7925为自动化TO-CAN封装外观检测系 统,可提供封装前后的透镜与金属外盖缺陷进行 检测。透过高解析度之镜头以及多样的光源配 置,可检出30um以上的透镜刮伤及异物。由于 载盘可能存在制造公差导致待测物对焦距离均不 相同,Chroma 7925配置了自动对焦系统,可自 动计算待测物之对焦距离并进行补偿,以确保可 以取得清楚的检测影像。
使用者可以自由设定良品与不良品之规则及缺陷 编码,并依据编码进行挑拣。从上片、检测、挑 拣及下片均为全自动化流程,大幅降低人员操作 及制程管理发生错误的机会。检测完成后,工程 师可以取得详细的缺陷量化数据,以及储存缺陷 影像以利于再判读。相较于人工目检无法保留检 测资料,使用Chroma 7925所取得之资料,将有 助于分析制程问题,并进一步提升产品良率。
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Model | Description | 询价 |
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7925 | TO-CAN 封装外观检测系统 |
致茂Chroma 7925TO-CAN 封装外观检测系统