Chroma 58635-L/N/F光电组件晶圆点测系统

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Chroma 58635-L/N/F光电组件晶圆点测系统

主要特色：

• 依据ISO/IEC标准
• 大可测试6吋晶圆
• 宽广的测试范围与高精准温度控制
• 同时支持Pulse与CW模式操作
• LIV量测 : Model 58635-L 
  近场量测 : Model 58635-N 
  远场量测 : Model 58635-F
• 支持multisite测试

随着光电组件的技术越趋成熟，应用也越来越广泛。其中，雷射二极管 (laser diode) 除通讯应用外，也朝消费性应用扩展。因应此全新市场，致茂电子藉由多年累积之光电量测技术，开发专为消费性应用之光电组件晶圆点测系统Model 58635系列机种。

58635系列大可测试6吋晶圆，并搭配致茂电子之精密测试仪器设备，如电流源与温度控制器，能满足雷射二极管测试之严苛要求，雷射二极管相关光电特性参数随温度变化而有所变异，58635系列机种精准之温度控制，能提供蕞稳定、准确之量测数值。

Model 58635系列因应不同测试需求，共包含3机种：58635-L，58635-N，以及 58635-F。

LIV量测系统

致茂电流源提供准确稳定之电流源以及电压量测，搭配积分球与光谱仪，提供准确之光功率与波长量测。藉由58635-L完整之软件功能，所有LIV与波长之相关参数均能在此量测。

近场量测系统

58635-N参照ISO关于雷射近场量测之相关规范，对于雷射二极管之光束传播比例 (beam propagation ratio)或光束质量 (beam quality) 之相关参数，提供精准快速之量测。

远场量测系统

58635-F针对雷射二极管之远场光学特性进行测量，诸如雷射之发光角度。另参照IEC人眼安全相关规范，58635-F能于远场找寻光束蕞强之处，从而判断是否符合人眼安全相关规范。

 应用范围

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Chroma 58635-L/N/F光电组件晶圆点测系统