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Chroma 58635-L/N/F光电组件晶圆点测系统

更新时间:2020-07-08

简要描述:

Chroma 58635-L/N/F光电组件晶圆点测系统
58635-L光电组件晶圆LIV点测系统
58635-N光电组件近场量测点测系统
58635-F光电组件远场量测点测系统

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Chroma 58635-L/N/F光电组件晶圆点测系统

主要特色:

  • 依据ISO/IEC标准
  • 最大可测试6吋晶圆
  • 宽广的测试范围与高精准温度控制
  • 同时支持Pulse与CW模式操作
  • LIV量测 : Model 58635-L 
    近场量测 : Model 58635-N 
    远场量测 : Model 58635-F
  • 支持multisite测试

随着光电组件的技术越趋成熟,应用也越来越广泛。其中,雷射二极管 (laser diode) 除通讯应用外,也朝消费性应用扩展。因应此全新市场,致茂电子藉由多年累积之光电量测技术,开发专为消费性应用之光电组件晶圆点测系统Model 58635系列机种。

58635系列最大可测试6吋晶圆,并搭配致茂电子之精密测试仪器设备,如电流源与温度控制器,能满足雷射二极管测试之严苛要求,雷射二极管相关光电特性参数随温度变化而有所变异,58635系列机种精准之温度控制,能提供蕞稳定、最准确之量测数值。

Model 58635系列因应不同测试需求,共包含3机种:58635-L,58635-N,以及 58635-F。

LIV量测系统

致茂电流源提供准确稳定之电流源以及电压量测,搭配积分球与光谱仪,提供准确之光功率与波长量测。藉由58635-L完整之软件功能,所有LIV与波长之相关参数均能在此量测。

近场量测系统

58635-N参照ISO关于雷射近场量测之相关规范,对于雷射二极管之光束传播比例 (beam propagation ratio)或光束质量 (beam quality) 之相关参数,提供精准快速之量测。

远场量测系统

58635-F针对雷射二极管之远场光学特性进行测量,诸如雷射之发光角度。另参照IEC人眼安全相关规范,58635-F能于远场找寻光束蕞之处,从而判断是否符合人眼安全相关规范。

 应用范围

 

 

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