产品中心
Product Center泰克P6245低压单端探头 低压单端探头通常用于测量低于 12 V 以地参考的高速信号。这种低压探头是在高阻抗、高频电路元件上进行测量的甲选择,这些测量中需要将探头负载影响降至低。 用户应选择具有低输入电容指标 (~1 pF) 的探头以zui大程度降低探头对电路的负载影响。 具有较低输入电容的探头能在更高频率上提供更高输入阻抗。
泰克P6243低压单端探头 低压单端探头通常用于测量低于 12 V 以地参考的高速信号。这种低压探头是在高阻抗、高频电路元件上进行测量的甲选择,这些测量中需要将探头负载影响降至低。 用户应选择具有低输入电容指标 (~1 pF) 的探头以zui大程度降低探头对电路的负载影响。 具有较低输入电容的探头能在更高频率上提供更高输入阻抗。
泰克P6015A高压单端探头 高压单端探头通常用于测量低于40 kV以地参考的信号。但是,某些单端探头设计用于隔离或浮动输入的仪器,进行非以地参考的测量.用户应选择较低输入电容指标(<4PF)的探头以zui大程度降低探头对电路的负载影响,因为输入电容较低的探头能在更高频率上提供更高的输入阻抗。
泰克TPP0850高压单端探头 高压单端探头通常用于测量低于40 kV以地参考的信号。但是,某些单端探头设计用于隔离或浮动输入的仪器,进行非以地参考的测量.用户应选择较低输入电容指标(<4PF)的探头以zui大程度降低探头对电路的负载影响,因为输入电容较低的探头能在更高频率上提供更高的输入阻抗。
泰克P5150高压单端探头 高压单端探头通常用于测量低于40 kV以地参考的信号。但是,某些单端探头设计用于隔离或浮动输入的仪器,进行非以地参考的测量.用户应选择较低输入电容指标(<4PF)的探头以zui大程度降低探头对电路的负载影响,因为输入电容较低的探头能在更高频率上提供更高的输入阻抗。