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Product Center泰克P7240低压单端探头 低压单端探头通常用于测量低于 12 V 以地参考的高速信号。这种低压探头是在高阻抗、高频电路元件上进行测量的甲选择,这些测量中需要将探头负载影响降至低。 用户应选择具有低输入电容指标 (~1 pF) 的探头以zui大程度降低探头对电路的负载影响。 具有较低输入电容的探头能在更高频率上提供更高输入阻抗。
泰克TAP3500低压单端探头 低压单端探头通常用于测量低于 12 V 以地参考的高速信号。这种低压探头是在高阻抗、高频电路元件上进行测量的甲选择,这些测量中需要将探头负载影响降至低。 用户应选择具有低输入电容指标 (~1 pF) 的探头以zui大程度降低探头对电路的负载影响。 具有较低输入电容的探头能在更高频率上提供更高输入阻抗。
泰克TAP4000低压单端探头 低压单端探头通常用于测量低于 12 V 以地参考的高速信号。这种低压探头是在高阻抗、高频电路元件上进行测量的甲选择,这些测量中需要将探头负载影响降至低。 用户应选择具有低输入电容指标 (~1 pF) 的探头以zui大程度降低探头对电路的负载影响。 具有较低输入电容的探头能在更高频率上提供更高输入阻抗。
泰克TAP2500低压单端探头 低压单端探头通常用于测量低于 12 V 以地参考的高速信号。这种低压探头是在高阻抗、高频电路元件上进行测量的甲选择,这些测量中需要将探头负载影响降至低。 用户应选择具有低输入电容指标 (~1 pF) 的探头以zui大程度降低探头对电路的负载影响。 具有较低输入电容的探头能在更高频率上提供更高输入阻抗。
泰克TAP1500低压单端探头 低压单端探头通常用于测量低于 12 V 以地参考的高速信号。这种低压探头是在高阻抗、高频电路元件上进行测量的甲选择,这些测量中需要将探头负载影响降至低。 用户应选择具有低输入电容指标 (~1 pF) 的探头以zui大程度降低探头对电路的负载影响。 具有较低输入电容的探头能在更高频率上提供更高输入阻抗。