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Product Center致茂Chroma POGO BT 4000 测试仪 笔记本/手持式系统的LCD耐久性 : 模拟一个产品的面板元件非常态的受力 按键的寿命测试 : 模拟在产品的生命周期内按键的耐久度 机构密合度 : 模拟产品结构上的耐久度 产品缓冲 : 模拟重复摩擦塑胶材质或触控式面板
Chroma Multi-Hinge Tester 多组开合测试仪 针对笔记型电脑的转轴测试 待测物数量可架设10组Hinge 可扩充同时测试15组Hinge
致茂Chroma HiByM 2001 Hinge 开合测试仪 高效能,全自动的扭转开合测试机 高速、准确及适用性能符合许多测试规范 主要为笔记型电脑及其他使用时会承受重复性扭转的产品 模仿操作者每日正常使用产品时影响的机械结构动作
致茂Chroma MFM 3000 磁场电场测试仪 符合所有现行的tco低频磁场辐射测试标准(MFM 2000) 可载入icniRP、en 50366、iec 62233等规范(选购),并适用于其他由icniRP衍生的低频磁场辐射测试规范(5Hz~400 Khz)(MFM 3000) 全自动权范围测量,并可同时量测双频带(VLF/ELF)(MFM 2000)频带I(5Hz~2 kHz):10
致茂Chroma MFM 2000 磁场电场测试仪 符合所有现行的TCO低频磁场辐射测试标准(MFM2000) 可载入ICNIRP、EN 50366、IEC 62233等规范(选购),并适用于其他由ICNIRP衍生的低频磁场辐射测试规范(5Hz~400kHz) (MFM 3000) 全自动权范围测量,并可同时量测双频带(VLF/ELF) (MFM2000) 频带I(5Hz~2kHz):10n