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Product Center致茂Chroma 58212-C LED电性测试系统 高速高精度 横向、垂直和倒装芯片 宽功率测试范围(高达200 V/2A) 高达8英寸的晶片 Chroma巨型光电探测器
致茂Chroma 58154/B/C ESD 测试系统 致茂Chroma58154ESD 测试系统 (4kV/400V) 致茂Chroma58154-BESD 测试系统 (6kV/800V) 致茂Chroma58154-CESD 测试系统 (8kV/800V)
致茂Chroma 58131 OLED 寿命周期测试系统 独立且精密的量测方式(PMU) 提供高精确度的电压及电流 高精确度的量测能力 单一待测物故障自我控制,不影响其他测试中的待测物
Chroma A712306 液晶模组自动测试探头 可与液晶模组自动测试系统整合进行液晶模组自动闪烁调整 可整合Chroma 29XX系列液晶模组自动测试系统 支援FMA和FLVL闪烁量测模式 砖利调整演算法,调整速度快
Chroma 29133/29135 液晶模组自动测试系统 符合 Full HD 量测 电脑平台之液晶模组测试系统 LVDS / TTL (选购) / TMDS信号提供 显示画面解析度可达 WUXGA@60Hz 高精度之可编程直流电源 外接式直流电源控制 (选购) 电源保护OVP / OCP / UVP / UCP 电压/电流量测 GO / NOGO快速判定功能