产品中心您现在的位置:首页 > 产品展示 > 测试系统 > 致茂测试系统 > 58212-C致茂Chroma 58212-C LED电性测试系统

致茂Chroma 58212-C LED电性测试系统

更新时间:2020-07-07

简要描述:

致茂Chroma 58212-C LED电性测试系统
高速高精度
横向、垂直和倒装芯片
宽功率测试范围(高达200 V/2A)
高达8英寸的晶片
Chroma巨型光电探测器

       欢迎光临本公司网站!不管您来我们网站是选型号还是买产品,请加一下上方手机卫星号,保证我们提供的服务您会满意的,因为我们是提供专业服务的。您能在茫茫网海中,找到我们这里,说明与我们很有缘分,不管结果如何,让我们从这里开始相识、相交到相见。从此以后不管您身在何方,只要您有任何产品问题都可以向我们咨询,我们会满怀热情,尽最大的努力为您释疑。您顺手加个卫星备用,以后有相关问题发一条信息给我们,我们就可以为您解答,还可以为您提出一些相关专业的参考意见。一次简单的相遇,交一生的朋友,买卖不成情谊在,这次不成,下次还有机会:合适——您今天下单;不合适——您改天下单;来与不来——友谊在;买与不买——情义在;一年又一年,我们一直都在翘首等待您的到来!米恩科技,诚信经营,用心服务 。————深圳市米恩科技有限公司

致茂Chroma 58212-C LED电性测试系统

主要特色:

  • 高速高精度
  • 横向、垂直和倒装芯片
  • 宽功率测试范围(高达200 V/2A)
  • 高达8英寸的晶片
  • Chroma巨型光电探测器
  • 独特边缘传感器
  • 探针头
  • 鲁棒Z轴级
  • 晶片映射算法
  • 外遮光罩
  • 分析工具和统计报告

测试项目

  • 电参数:
    -正向电压测量(VF)
    -反向击穿电压测量(VRB)
    -反向泄漏电流
    -SCR检测
  • 光学参数:
    光功率(mW,lm,mcd)
    -主导波长(WD)
    -峰值波长(WP)
    -半高宽(半高宽)
    -CIExy-CCT-CRI

Chroma 58212-C具有自动LED晶片/芯片探针测试仪,提供快速和准确的LED测量,测试次数少于125 ms*1。

该系统可以修改,以支持不同的LED结构,包括横向,垂直,和倒装芯片设计。集成扫描仪提供独立的晶片映射,以保证精确测试。探头头防止设备划伤,并确保与每个LED固体接触。

Chroma独特的设计获得并分析了光学数据,如主导波长、峰值波长和CCT。此外,它还提供了基本的电气数据,如正向电压、泄漏电流和反向击穿电压,都是在一步测试中完成的。

58212-C包括一个用户友好的图形界面和先进的逻辑算法,以显著提高生产效率.综合统计报告和分析工具便于控制和批量生产管理。

注:1:试验条件:在300μm样品沥青下,5个电测试参数和1个光学参数。由于LED特性的不同,测量结果可能会有所不同。

取得产品价格.点选您有兴趣的产品并加入询价车,简单2步骤将询价单寄给我们,或继续回到产品页选取更多产品.

模型描述询价
58212-CLED测图探针测试仪

致茂Chroma 58212-C LED电性测试系统

留言框

  • 产品:

  • 留言内容:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 详细地址:

  • 省份:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
深圳市米恩科技有限公司

深圳市米恩科技有限公司

地址:深圳市龙华区民治街道民乐一区

©2020 版权所有:深圳市米恩科技有限公司  备案号:  总访问量:30540  站点地图  技术支持:化工仪器网  管理登陆

QQ在线客服
联系方式

13530498700

13530498700