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Product Center致茂Chroma 58212-C LED电性测试系统高速高精度横向、垂直和倒装芯片宽功率测试范围(高达200 V/2A)高达8英寸的晶片Chroma巨型光电探测器
品牌 | Chroma/致茂 | 产地类别 | 国产 |
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应用领域 | 电子 |
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致茂Chroma 58212-C LED电性测试系统
主要特色:
测试项目
Chroma 58212-C具有自动LED晶片/芯片探针测试仪,提供快速和准确的LED测量,测试次数少于125 ms*1。
该系统可以修改,以支持不同的LED结构,包括横向,垂直,和倒装芯片设计。集成扫描仪提供独立的晶片映射,以保证精确测试。探头头防止设备划伤,并确保与每个LED固体接触。
Chroma*的设计获得并分析了光学数据,如主导波长、峰值波长和CCT。此外,它还提供了基本的电气数据,如正向电压、泄漏电流和反向击穿电压,都是在一步测试中完成的。
58212-C包括一个用户友好的图形界面和*逻辑算法,以显著提高生产效率.综合统计报告和分析工具便于控制和批量生产管理。
注:1:试验条件:在300μm样品沥青下,5个电测试参数和1个光学参数。由于LED特性的不同,测量结果可能会有所不同。
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模型 | 描述 | 询价 |
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58212-C | LED测图探针测试仪 |
致茂Chroma 58212-C LED电性测试系统