致茂Chroma 58212-C LED电性测试系统

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致茂Chroma 58212-C LED电性测试系统

主要特色：

• 高速高精度
• 横向、垂直和倒装芯片
• 宽功率测试范围(高达200 V/2A)
• 高达8英寸的晶片
• Chroma巨型光电探测器
• *边缘传感器
• 探针头
• 鲁棒Z轴级
• 晶片映射算法
• 外遮光罩
• 分析工具和统计报告

测试项目

• 电参数：
  -正向电压测量(VF)
  -反向击穿电压测量(VRB)
  -反向泄漏电流
  -SCR检测
• 光学参数：
  光功率(mW，lm，mcd)
  -主导波长(WD)
  -峰值波长(WP)
  -半高宽(半高宽)
  -CIExy-CCT-CRI

Chroma 58212-C具有自动LED晶片/芯片探针测试仪，提供快速和准确的LED测量，测试次数少于125 ms*1。

该系统可以修改，以支持不同的LED结构，包括横向，垂直，和倒装芯片设计。集成扫描仪提供独立的晶片映射，以保证精确测试。探头头防止设备划伤，并确保与每个LED固体接触。

Chroma*的设计获得并分析了光学数据，如主导波长、峰值波长和CCT。此外，它还提供了基本的电气数据，如正向电压、泄漏电流和反向击穿电压，都是在一步测试中完成的。

58212-C包括一个用户友好的图形界面和*逻辑算法，以显著提高生产效率.综合统计报告和分析工具便于控制和批量生产管理。

注：1：试验条件：在300μm样品沥青下，5个电测试参数和1个光学参数。由于LED特性的不同，测量结果可能会有所不同。

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致茂Chroma 58212-C LED电性测试系统