泰克S530参数化测试系统 S530 参数化测试系统 适用于必须操作各种设备和技术的生产和实验室环境，提供业界领xian的测试计划灵活性、自动化、探头测试台集成以及测试数据管理功能。Keithley 拥有超过 30 年的专业经验，针对这些测试解决方案的设计向*的客户提供各种标准和自定义参数化测试仪。

泰克S500集成式测试系统 S500 集成式测试系统 是高度可配置的、基于仪器的系统，适用于器件、晶片或暗盒级半导体检定。S500 集成式测试系统基于我们经过验证的仪器，提供创新的测量功能和系统灵活性，并且根据您的需求可进行扩展。*的测量能力结合强大而灵活的自动化检定套件 （ACS） 软件，提供市场上其他同类系统无法提供的广泛应用和功能。

泰克2600-PCT-4B参数曲线跟踪仪 开发和使用 MOSFET、IGBT、二极管和其他大功率器件，需要全面的器件级检定，如击穿电压、通态电流和电容测量。 Keithley 高功率参数化波形记录器系列的配置支持所有的设备类型和测试参数。 Keithley 参数化波形记录器配置包括检定工程师快速开发全面测试系统所需的一切。

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