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N5511A是德相位噪声测试系统

更新时间:2019-12-05

简要描述:

N5511A是德相位噪声测试系统
是德提供专用相位噪声测量解决方案,简化测量并最大限度提高效率。以30多年低相位噪声和射频设计与测量经验为后盾,我们的创新解决方案提供zui精确的相位噪声数据,并可以适中的价格为您量身定做,满足您现在和未来对性能和应用的特殊需求。

N5511A是德相位噪声测试系统

主要特性与技术指标

频率范围

  • 射频输入频率范围:50 khz至40 ghz内相位探测器
  • 使用外部相位探测器可以测量100 ghz以上的毫米波信号。
  • 宽载波偏移能力,从0.01赫兹到160兆赫内部(十多年)

噪声测量功能

  • 在单通道和双通道结构中,采用相位检测器(正交)方法的绝对相位噪声和残余相位噪声。双通道允许使用互谱平均(互相关)将灵敏度降低到“kt”,即热相位噪声地板(-177 dBm/hz)。
  • 单端口器件(VCO,DRO,晶体振荡器,合成器等)的测量和双端口器件(放大器、变频器、分频器等),外加连续波、脉冲和杂散信号。
  • 噪声地板(灵敏度)优于-200 dbc/hz(具有+23 dBm和较高的输入射频信号,使用互相关)
  • 50 kHz~40 GHz射频载波的AM噪声
  • 从0.01Hz到160 MHz的基带噪声测量
  • 使用内置内部或客户提供的外部prf滤波器的脉冲rf测量

额外能力和效益

  • 专为相位噪声“超级用户”而设计,现有的商用相位噪声测试仪器一直无法满足这些用户的需要
  • 基于现场可编程门阵列(FPGA)的多段快速实时硬件互相关
  • 用完全向后兼容的熟悉的用户界面替换Keysight E5505A
  • 使用任何频率可调源作为外部参考,可以提高单通道测量的灵敏度,并大大减少双通道测量的互相关时间。
  • 各种相位噪声测量技术,包括PLL/参考源、残差和fm鉴别器方法,都可以灵活地配置。
  • PXIe的“未来证明”:添加额外的预认证模块来完成您的测试系统(例如网络分析器等)。
  • 开放体系结构以灵活的方式将标准仪器、相位噪声组件和pc软件结合在一起,允许仪器资产的重用(专有的封闭体系结构不那么灵活,因为嵌入式参考源和分析器可以限制相位噪声测量性能)。
  • N5510A软件使许多独立的仪器能够在一个系统内协同工作
  • 通过对外部功率分配器的访问,用户可以独立地向每个信道添加外部衰减器、放大器和其他测试设置附件,并通过互相关过程抑制来自这些设备的任何附加噪声。

描述

关键技术公司N5511A相位噪声测试系统(PNTS)是一种替代“金标准”键控E 5500相位噪声测量系统。PNTS是测试系统的基础,在室温下可以测量到KT(-177 dBm/Hz)的相位噪声。这种热相位噪声地板是任何测量的理论极限。因此,PNTS可以测量到物理极限。

相位噪声是几乎所有射频(RF)和微波器件(包括振荡器、混频器、分频器、倍频器和放大器)产生的不需要的相位调制噪声。PNTS是专为相位噪声“超级用户”设计的,现有的商用相位噪声测试仪器(如“单盒”集成测试解决方案)一直无法满足这些用户的需求。这些人是典型的相位噪声专家,他们希望充分描述从他们的射频和微波设备中产生的相位噪声(以及AM噪声和基带噪声)。电力用户,包括负责开发高性能航空航天和国防应用的专业人员,以及为5G和其他无线通信系统设计尖端设备的专业人员,需要不断地验证和改进其设计的相位噪声性能。

有关相位噪声的更多信息,请访问相位噪声测量.

N5511A是德相位噪声测试系统

 

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