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Product Center致茂Chroma 19501-K 局部放电测试仪单机内建高电压耐压测试与PD侦测功能可程式交流电压 0.1kVac ~ 10KVac高精度及高解析度电流表 0.01uA ~ 300uA局部放电(PD)侦测范围 1 pC ~ 2000 pC高压接触检查功能(HVCC)符合IEC60747-5-5与IEC 60270-1 法规测试要求
品牌 | Chroma/致茂 | 产地类别 | 国产 |
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应用领域 | 电子 |
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致茂Chroma 19501-K 局部放电测试仪
主要特色:
Chroma 19501-K 局部放电测试器结合高电压耐压测试与局部放电(Partial Discharge)侦测功能于一单机,提供交流电压输出大10kV,漏电流量测范围从0.01uA~300uA,局部放电侦测范围小可侦测1pC放电量,针对高压半导体元件及高绝缘材料测试应用所开发。产品设计符合IEC 60270-1与IEC60747-5-5法规要求,同时内建IEC 60747-5-5法规之测试方法在仪器内部,满足光耦合器产品生产测试需求,并提供给使用者一个便利操作介面.
在生产线上执行高压测试时,如果被测物未能正确及良好连接测试线,将导致测试结果失败甚至是漏测的风险。因此,在测试前确保被测物与测试线良好连接是非常重要的。 Chroma *之HVCC高压接触检查功能(High Voltage Contact Check),利用Kelvin测试方法针对高绝缘能力之元件于高压输出时同步进行接触检查,提升其测试可靠度与效率。
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Model | Description | 询价 |
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19501-K | 局部放电测试器 |
致茂Chroma 19501-K 局部放电测试仪