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泰克4200A-SCS参数分析仪

产品简介

泰克4200A-SCS参数分析仪
大胆发现从未如此容易。 4200A-SCS 参数分析仪可将检定和测试设置的复杂程度降低高达 50%,提供清晰且不折不扣的测量和分析功能。 另外,嵌入式测量专业知识可提供测试指南并让您对结果充满信心。
特点
内置测量视频采用英语、中文、日语和韩语
使用数百个用户可修改应用测试开始您的测试
自动实时参数提取、数据绘图、算数函数

产品型号:4200A-SCS
更新时间:2023-07-19
厂商性质:代理商
访问量:794
详细介绍在线留言
品牌泰克产地类别进口
应用领域电子

泰克4200A-SCS参数分析仪

主要性能指标

I-V 源测量单元(SMU)

  • ± 210 V/100 mA 或 ± 210 V/1 A 模块
  • 100 fA测量分辨率
  • 选配前端放大器提供了 10 aA测量分辨率
  • 10 mHz - 10 Hz 超低频率电容测量
  • 四象限操作
  • 2 线或 4 线连接

C-V 多频率电容单元(CVU)

  • AC 阻抗测量 (C-V, C-f, C-t)
  • 1 kHz - 10 MHz 频率范围
  • ± 30 V (60 V差分)内置DC偏置源,可以扩展到± 210 V(420 V 差分)
  • 选配 CVIV 多通道开关,在 I-V 测量和 C-V 测量之间简便切换脉冲式I-V 超快速脉冲测量单元(PMU)
  • 两个独立的或同步的高速脉冲 I-V 源和测量通道
  • 200 MSa/s,5 ns 采样率
  • ±40 V (80 V p-p),±800 mA
  • 瞬态波形捕获模式
  • 任意波形发生器 Segment ARB® 模式,支持多电平脉冲波形,10 ns 可编程分辨率

高压脉冲发生器单元(PGU)

  • 两个高速脉冲电压源通道
  • ±40 V (80 V p-p),± 800 mA
  • 任意波形发生器 Segment ARB®模式,支持多电平脉冲波形,10 ns 可编程分辨率I-V/C-V 多通道开关模块 (CVIV)
  • 在 I-V测量和 C-V 测量之间简便切换,无需重新布线或抬起探针
  • 把 C-V测量移动到任意端子,无需重新布线或抬起探针远程前端放大器/ 开关模块(RPM)
  • 在 I-V 测量、C-V 测量和超快速脉冲 I-V 测量之间自动切换
  • 把 4225-PMU的电流灵敏度扩展到数十皮安
  • 降低电缆电容效应

为材料、半导体器件和工艺开发提供*秀的参数分析仪

使用强大的Clarius 软件,可以更加快速的完成I-V, C-V 和脉冲I-V 测试,结果清晰明了

泰克4200A-SCS参数分析仪

 

4200A-SCS 仪器和模块

型号说明主要测量范围测量分辨率
  4200-SMU  中等功率源测量单元  DC I-V
超低频率 C-V
准静态 C-V
  ±100 mA, ±210 V  0.2 mV, 100 fA
4210-SMU高功率源测量单元±1 A, ±210 V0.2 mV, 100 fA
4200-PA远程前端放大器模块扩展所有 SMU 的电流范围0.2 mV, 10 aA
   1 kHz - 10 MHz 
4210-CVU电容电压单元AC 阻抗
C-V, C-f, C-t
±30 V 内置DC 偏置装置(60 V 差分)
使用 SMU 扩展直流偏置电压至
-
   ±210V 
4200A-CVIVI-V/C-V 多通道
开关模块
DC I-V 和 C-V 自动切换--
  脉冲式 I-V
SegmentARBR® 多电平脉冲
瞬态波形捕获
±40 V (80 V p-p), ±800 mA
200 MSa/s 同时测量电流和电压
 
4225-PMU超快速脉冲测量单元2048 个唯yi段75 nA
  20 ns 脉宽仅输出时 
  60 ns 脉宽输出同时测流时 
4225-RPM远程前段放大器 /
开关模块
DC I-V、C-V、脉冲式 I-V
间自动切换
扩展 4225-PMU 单元的电流范围200 pA
4220-PGU高压脉冲发生器单元脉冲式电压源
Segment ARB® 多电平脉冲
±40 V (80 Vp-p)
2048 个唯yi段
-
接地单元内置低噪声接地单元-三同轴连接 : 2.6 A
接线柱 : 9.5 A
-

 

典型应用

MOSFET, BJT 晶体管
材料特性分析
非易失性存储设备
电阻率系数和霍尔效应测量
NBTI/PBTI
III-V 族器件
失效分析
纳米器件
二极管和pn 联结
太阳能电池
传感器
MEMS 器件
电化学
LED 和OLED

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