更新时间：2020-05-25
日置 IM3570/IM3590/IM7580A 阻抗分析仪IM3570 阻抗分析仪IM3590 化学阻抗分析仪IM7580A 阻抗分析仪
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日置 IM3570/IM3590/IM7580A 阻抗分析仪
阻抗分析仪IM3570
1台仪器实现不同测量条件下的高速检查
● 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
● LCR模式下蕞快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量
● 基本精度±0.08%的高精度测量
● 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量
● 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
● 可以用于无线充电评价系统TS2400
主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。
LCR测试仪和阻抗分析仪合二为一的IM3570通过扫频测量和峰值比较器功能对共振状态进行合格判定，并在LCR模式想能通过1kHz或120Hz的LCR测量进行检查。扫频测量和LCR测量一台仪器全部实现。
仅需输入数值即可轻松计算精度。
阻抗分析仪精度计算软件请点击
| 测量模式 | LCR（LCR测量），分析仪（扫描测量），连续测量 |
|---|---|
| 测量参数 | Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流电阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q |
| 测量量程 | 100mΩ~100MΩ，12档量程（所有参数由Z确定） |
| 显示范围 | Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[单位]~9.999999G[单位]，仅Z和Y显示值 θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999） Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%） |
| 基本精度 | Z：±0.08%rdg. θ：±0.05° |
| 测量频率 | 4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步进） |
| 测量信号电平 | V模式，CV模式（普通模式） 50mV~1Vrms，1mVrms步进（1MHz以下） 10mV~1Vrms，1mVrms步进（1.0001MHz以上） CC模式（普通模式） 10μA~50mA rms，10μA rms步进（1MHz以下） 10μA~10mA rms，10μA rms步进（1.0001MHz以上） |
| 输出阻抗 | 普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω |
| 显示 | 彩色TFT5.7英寸，可设置显示ON/OFF |
| 测量时间 | 0.5ms（100kHz，FAST，显示OFF，代表值） |
| 测量速度 | FAST/MED/SLOW/SLOW2 |
| 其他功能 | DC偏压测量，比较功能，面板读取和保存，存储功能 |
| 接口 | EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通讯，U盘，LAN |
| 电源 | AC90~264V，50/60Hz，大150VA |
| 打印 | 拷贝测量值或屏幕显示的要点（需用9442，9593-01和9446） |
| 接口 | GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有标准) |
| 电源 | AC90~264V，50/60Hz，大150VA |
| 体积和重量 | 330W×119H×307Dmm，5.8kg |
| 附件 | 电源线×1，使用说明书×1，通讯手册×1 |
DC~8MHz，1m长
DC~200kH，50 Ω，1 m长
线长73cm，DC～8MHz，50Ω，前端电极间隔：0.3～6mm(IM9901:JIS尺寸1608～5750)（IM9902：JIS尺寸0603～5750）
线长1m，DC~5MHz，特性阻抗50Ω，可测端口直径：0.3~1.5mm
DC～8 MHz, 直接连接型
直接连接型, DC～5 MHz 测试尺寸: 1mm～10.0mm
直接连接型，40Hz~8MHz，大外加电压DC±40V
直接连接型，40Hz~2MHz，大外加电流DC 2A(大外加电压DC±40V)
线长1m，DC~200kHz，50Ω，可测导体直径φ0.3mm~2mm
用于侧面有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：3.5mm±0.5mm
用于底部有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：宽1.0~4.0mm，高1.5mm以下
回路分析功能/阻抗分析仪选件
2m长
供电电源为AC适配器，9671或电池组9672， 无CE标志。
用于测量电气化学零件和材料/电池/EDLC(电气双层电容)
● 适用于离子运动和溶液电阻测量，1mHz ～ 200kHz的宽范围信号源
● 1台机器即可实现LCR测量、扫描测量的连续测量和高速检查
● 可测量电池的无负载状态产生的内部电阻
● 蕞快2ms的高速测量，实现扫描测量的高速化
● 基本精度±0.05%，零件检查到研究开发测量均可对应
● 适用于Cole-Cole图、等效电路分析等电器化学零件和材料的电阻(LCR)测量
注：主机不带测试治具。请从选件中选择测试治具和探头。
※ RS-232C用连接线可使用普通的对应联锁的交叉线。RS-232C连接线9637仅可在不使用硬件流程控制时使用。
使用例：可以用于电气化学元件和材料、电池、双电层电容器的测量中的Cole-Cole图和等效电路分析。
使用例：适用于电池的电极/电解质界面中的电荷移动电阻或电解质内的物质移动过程等电池内部的现象分析
自动测量电池电压，通过产生和电池电压相同的直流电压，可以测量电池无负载状态下的内部阻抗。
·可测范围：10 mΩ～10 Ω
·电池电压：5V以下
通过扫描测量频率（多801点），频率特性、Cole-Cole图显示，轻松把握特性。也能进行信号电平（电压/电流）和DC偏压扫描。
因为多可进行801点的时间间隔测量，因袭能够显示随时间变化的图标，掌握根据温度等环境变化的特性。
仅需输入数值即可轻松计算精度。
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| 测量模式 | LCR模式，连续测量（LCR/分析），分析模式（频率或电平扫描，温度特性，等效回路分析） |
|---|---|
| 测量参数 | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, Rdc (直流电阻), X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q, T, σ (导电率), ε (介电常数) |
| 测量量程 | 100mΩ～100MΩ, 10档量程 (所有参数均由Z规定) |
| 显示范围 | Z, Y, Rs, Rp, Rdc, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp, σ, ε : ± (0.000000 [単位]～9.999999G [单位]) 仅Z和Y为值显示 θ: ± (0.000°～999.999°), D: ± (0.000000～9.999999) Q: ± (0.00～99999.99), Δ%: ± (0.0000%～999.9999%) T: -10.0℃～99.9℃ |
| 基本精度 | Z: ±0.05% rdg. θ: ±0.03° |
| 测量频率 | 1 mHz～200 kHz (1 mHz～10 Hz步进) |
| 测量信号电平 | 普通模式： V模式，CV模式：5 mV～5 V rms，1 mV rms步进 CC模式：10 μA～50 mA rms，10 μA rms步进 低阻抗高精度模式： V模式，CV模式：5 mV～2.5 V rms, 1 mV rms步进 CC模式：10 μA～100 mA rms, 10 μA rms步进 |
| 输出电阻 | 普通模式：100 Ω，低电阻高精度模式：25 Ω |
| 显示 | 彩色TFT5.7英寸，可设置显示ON/OFF |
| 测量时间 | 2ms（1kHz，FAST，显示屏OFF，代表值） |
| 功能 | DC偏压测量，直流电阻温度补偿（标准温度换算显示），温度测量，电池测量（自动DC偏压外加方法），BIN测量（分类功能），面板读取·保存，存储功能 |
| 接口 | EXT I/O（处理器），USB通讯，USB存储 选件：可安装RS-232C/GP-IB/LAN其中之一 |
| 电源 | AC 100～240 V, 50/60 Hz, 50 VA max |
| 体积及重量 | 330W × 119H × 168D mm, 3.1 kg |
| 附件 | 电源线×1，使用说明书×1，CD-R（通讯说明书，使用软件）×1 |
当使用9268-10或9269-10时，需要外接恒压和恒流源。
线长1m，DC~200kHz，50Ω，可测导体直径φ0.3mm~2mm
直接连接型，40Hz~8MHz，大外加电压DC±40V
直接连接型，40Hz~2MHz，大外加电流DC 2A(大外加电压DC±40V)
DC~200kH，50 Ω，1 m长
线长1m，DC~5MHz，特性阻抗50Ω，可测端口直径：0.3~1.5mm
DC～8 MHz, 直接连接型
DC~8MHz，1m长
线长73cm，DC～8MHz，50Ω，前端电极间隔：0.3～6mm(IM9901:JIS尺寸1608～5750)（IM9902：JIS尺寸0603～5750）
直接连接型, DC～5 MHz 测试尺寸: 1mm～10.0mm
用于侧面有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：3.5mm±0.5mm
Pt100，前端φ2 3mm，线长1m，防水结构
2m长
*RS-232C连接线可用于连锁的交叉线。RS232C连接线9637(9针-9针，交叉型)不能用于硬件流控制时。
2m长
蕞快0.5ms，高速、高稳定测量，节省空间的半个机架大小
● 测量频率1MHz~300MHz
● 测量时间：蕞快0.5ms
● 基本精度±0.72%rdg.
● 紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小
● 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪IM7580A的测试治具。
能够以测量结果为基础推测5种等效电路模式的常数。 而且，可以通过模拟功能，使用推测结果或者任意的常数来显示频率特性的理想值。 此外，使用比较器功能，还能够确定测量结果是否在判定区域内。
IM7580系列5种机型的测量频率覆盖了1MHz〜3GHz。
和用于6种尺寸SMD的测试治具IM9201组合使用，能够简单准确的测量样品。
分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。 “区域判定功能”是设置上限值和下限值的范围，并以IN/NG来显示判定结果。
分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
“峰值判定功能”是以上限值、下限值、左限制、右限值来设置范围，并以IN/NG来显示测量的峰值是否在判定区域内。
分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
“SPOT判定功能”是选择任意的扫描点和参数，多进行16点的判定。
使用比较器功能，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
适用于判定样品是否合格的功能。
使用接触检查功能，能够检查样品和测量端口的接触状态，并确认接触不良情况和连接状态。
测试头的连接线连接阻抗分析仪。
稍微弯曲扭力扳手的手柄后拧紧螺母（0.56 N・m）。
请注意不要拧过头。
仅需输入数值即可轻松计算精度。
阻抗分析仪精度计算软件请点击
| 测量模式 | LCR（LCR测量），分析（扫频测量），连续测量 |
|---|---|
| 测量参数 | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
| 精度保证范围 | 100 mΩ~5 kΩ |
| 显示范围 | Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99) θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF) D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS) G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %) |
| 基本精度 | Z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41° |
| 测量频率 | 1 MHz~300 MHz (100 Hz~10 kHz步进) |
| 测量信号电平 | 功率 (dbm)模式: -40.0 dbm~ +7.0 dbm 电压 (V)模式: 4 mV~1001 mVrms 电流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02mArms |
| 输出阻抗 | 50 Ω (10 MHz时) |
| 显示 | 彩色TFT8.4英寸、触屏 |
| 测量时间 | 蕞快0.5ms（FAST、模拟测量时间、代表值） |
| 功能 | 接触检查、比较器、BIN判定（分类功能）、面板读取·保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿 |
| 接口 | EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN RS-232C (选件), GP-IB (选件) |
| 电源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max |
| 体积和重量 | 主机: 215W × 200H × 268D mm, 6.5 kg 测试头: 61W × 55H × 24D mm, 175 g |
| 附件 | 电源线 ×1, 测试头 ×1, 连接线 ×1, 使用说明书 ×1, CD-R (通讯使用说明书) ×1 |
测试治具预计于近期发售。
标配放大镜
高频测量3GHz，对应6尺寸的SMD
详细内容 >>
3.5mm(公头)-7mm转换
OPEN/SHORT/LOAD的套装
2m长
9pin-9pin，1.8m长
*RS-232C连接线可用于连锁的交叉线。RS232C连接线9637(9针-9针，交叉型)不能用于硬件流控制时。
日置 IM3570/IM3590/IM7580A 阻抗分析仪
